ic測試座介紹

ic測試座介紹

IC測試座(測試插座)是對IC器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。

ic測試的主要目的

ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環境條件下能完全實現設計規格書所規定的功能及性能指標。

ic測試座工作原理

IC測試座主要就是用於檢查查在線的單個IC元器件以及各電路網絡的開、短路情況，以及模擬器件作用和數字器件邏輯作用測試。 

IC測試座就是測試期間在惡劣的環境條件下能完全實現設計規格書所規定的作用及性能指標。是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。

IC測試座采用手動翻蓋式結構和自動下壓式結構，操作方便；翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結構，能自動調節下壓力，保證IC的壓力均勻。

探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或導向孔，保證IC定位精確，生產效率高探針可更換，維修方便，成本低。

ic測試座 的應用

1） 來料檢驗

在使用ic前，應進行質量檢查，找出不良品，以提高ic的良品率。ic的質量僅僅用肉眼無法觀察。必須通電檢測。常用的檢測如：電流、電壓、電感、電阻和電容的方法不能完全判斷集成電路的質量。只有通過測試座的應用功能運行程序才能準確判斷。

2） 返修檢測

該測試座可以節省維修判斷和分析的時間，消除缺陷產生的原因，減少主板回流次數，降低維修板報廢的風險。

3） 燒錄/編程

IC測試臺安裝在PCB上后，形成IC燒錄座/IC編程座/IC適配器。通過連接合適的燒錄設備，可以對IC或模塊進行編程和燒錄。

4） 老化試驗

部件失效主要發生在生命周期的開始和最后10個階段。老化是通過對元器件的工作環境和電氣性能進行嚴格的測試，從而使元器件在壽命的前10%內加速工作，從而使缺陷在短時間內出現，從而及早發現故障。